测量项目：漏电流（Io）、阻性漏电流（Ior）。
测量电路数：2个电路。
测量泄漏电流的绝缘监视模块。
可对漏电流进行测量，以确保安全通过监视漏电流（Io），可检测出触电危险。
可连续不间断地监视设备的绝缘状态 测量阻性漏电流（Ior），
以便不间断地监视设备的绝缘老化状况。
可对每个测量项目进行2阶段的报警监视可分别对漏电流（ Io）、阻性漏电流（Ior）进行2阶段的报警监视，
无需梯形图程序Q10UDEHCPU报警监视分为注意报警和危险报警2阶段。
一个模块可测量两个电路 一个模块可对同一系统中相同相线式电源的两个电路进行测量。
此外，可使用GX Works2 （ 1.90U版或更高版本），轻松地设置参数。
［测量项目］漏电流（ Io）、阻性漏电流（ Ior）。输入：2通道。
500/200/100/10kpps。
计数器输入信号：EIA规格RS-422A(差动线性驱动器)。
外部输入：DC5/12/24V。
统一输出：晶体管(漏型)。
DC12/24V。
0.5A/点。
2A公共端。
40针连接器。
支持高分辨率设备。满足高速高精度控制应用的脉冲输入、高速计数器模块产品群。
对高速脉冲串进行计数的高速计数器模块。
可与外部编码器组合使用进行定位等控制。
可切换最高计数速度，对从高速脉冲到上升沿/下降沿平缓的低频脉冲进行计数。
每个1通道配备2点的外部一致输出。
可根据用途选择“一致输出功能”、“连续比较功能”，实现外部设备的高速控制。（QD64D2）
提供多种功能，例如一致输出测试功能（使用连续比较功能时）、预设功能、锁存计数器功能，
以满足各种应用需求。（ QD64D2）
输入脉冲的最高计数速度可达8Mpps （差分输入、2相4倍频时）。
可在半导体、液晶制造等对位置精度要求高的设备中，
使用高分辨率编码器执行精确的位置跟踪。（ QD65PD2）SRAM存储器卡，容量：4M字节。
尺寸：74*42.8*8.1mm
重量：15g。
支持SD存储卡。
高速通用型QCPU支持SD存储卡，
从而能够与有SD存储卡插口的PC之间轻松地实现数据交换。
另外、可同时使用SD存储卡和扩展SRAM卡。
因此，可利用扩展SRAM卡扩展文件寄存器，
可利用SD存储卡同时进行数据文件记录、大量注释数据保存、通过存储卡进行引导运行。
更好的用户体验数据记录功能。
记录方便，无需程序。
只需通过专门的配置工具向导轻松完成设置，
便可将收集的数据以CSV格式保存到SD存储卡。
可有效利用用已保存的CSV文件方便地创建各种参考资料，
包括日常报告、生成报表及一般报告。
这些资料可应用于启启动时的数据分析、追溯等。
毫无遗漏地记录控制数据的变动
可在每次顺序扫描期间或者在毫秒时间间隔内收集数据，
毫无遗漏地记录指定的控制数据的变动。
因此，在发生故障时，可快速确定原因，进行精确的动作分析。