输入输出点数：4096点。
输入输出软元件点数：8192点。
程序容量：40K步。
基本运处理速度（LD指令）：1.9ns。
程序内存容量：160KB。
外围设备连接端口：USB、以太网（通信协义支持功能）QD70D8用户手册。
存储卡I/F：SD存储卡、扩展SRAM卡。
方便处理大容量数据。
以往无法实现标准RAM和SRAM卡文件寄存器区域的连续存取，
在编程时需要考虑各区域的边界QD70D8
在高速通用型QCPU中安装了8MB SRAM扩展卡，
可将标准RAM作为一个连续的文件寄存器，
容量最多可达4736K字，从而简化了编程QD70D8用户手册。
因此，即使软元件存储器空间不足，
也可通过安装扩展SRAM卡，方便地扩展文件寄存器区域。
变址寄存器扩展到了32位，从而使编程也可超越了传统的32K字，
并实现变址修饰扩展到文件寄存器的所有区域。
另外，变址修饰的处理速度对结构化数据（阵列）的高效运算起着重要作用，
该速度现已得到提高。
当变址修饰用于反复处理程序（例如从FOR到NEXT的指令等）中时，可缩短扫描时间QD70D8用户手册。
支持USB和RS232。

支持安装记忆卡。

多CPU之间提供高速通信。
缩短了固定扫描中断时间，装置高精度化。
固定周期中断程序的最小间隔缩减至100μs。
可准确获取高速信号，为装置的更加高精度化作出贡献三菱QD70D8手册。
通过多CPU进行高速、高精度机器控制。
通过顺控程序的直线和多CPU间高速通信（周期为0.88ms）的并列处理，实现高速控制。
多CPU间高速通信周期与运动控制同步，因此可实现运算效率最大化。
此外，最新的运动控制CPU在性能上是先前型号的2倍，
确保了高速、高精度的机器控制。测量项目：漏电流（Io）、阻性漏电流（Ior）三菱QD70D8手册。
测量电路数：2个电路。
测量泄漏电流的绝缘监视模块。
可对漏电流进行测量，以确保安全通过监视漏电流（Io），可检测出触电危险。
可连续不间断地监视设备的绝缘状态 测量阻性漏电流（Ior），
以便不间断地监视设备的绝缘老化状况三菱QD70D8手册。
可对每个测量项目进行2阶段的报警监视可分别对漏电流（ Io）、阻性漏电流（Ior）进行2阶段的报警警监视，
无需梯形图程序QD70D8硬件。报警监视分为注意报警和危险报警2阶段。
一个模块可测量量两个电路 一个模块可对同一系统中相同相线式电源的两个电路进行测量QD70D8用户手册。
此外，可使用GX Works2 （ 1.90U版或更高版本），轻松地设置参数。
［测量项目］漏电流（ Io）、阻性漏电流（ Ior）。